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Praxisseminar: Hochpräzise, simultane Weg- und Winkelmessung

Datum: 24. Sept. 2024 | Ort: Ilmenau

Highlights des Seminars

Erlernen Sie die theoretischen Grundlagen und praktischen Anwendungen der simultanen Weg- und Winkelmessung.

Erfahren Sie, wie Sie Abbe-Fehler vermeiden und kompensieren können.

Lernen Sie, wie Sie Messsysteme korrekt positionieren, um geometrische Abweichungen zu minimieren.

Verstehen Sie die Auswirkungen von Umweltfaktoren wie Temperatur und Luftdruck auf die Messunsicherheit.

Erwerben Sie Kenntnisse zur Plausibilitätsprüfung von Messwerten aus interferometrischen Mehrstrahlsystemen.

Nutzen Sie den direkten Austausch mit unseren Experten und den anderen Seminar-Teilnehmern.

Sammeln Sie praktische Erfahrungen mit modernster laserinterferometrischer Messtechnik.

Das Praxisseminar: „Hochpräzise, simultane Weg- und Winkelmessung mit dem Schwerpunkt auf die Kompensation von Abbe-Fehlern“ bietet Ihnen die einmalige Gelegenheit, Ihr Fachwissen in der Präzisionsmesstechnik zu erweitern und vom Wissen der SIOS-Experten zu profitieren.

Veranstaltungsort: SIOS Meßtechnik GmbH  |  Am Vogelherd 46  |  98693 Ilmenau
Sprache: Deutsch  |  Teilnehmer: Die Teilnehmerzahl ist auf eine kleine Gruppe limitiert.
Teilnehmergebühr: 249 € / zzgl. MwSt. (inkl. freier Eintritt zur W3+ Fair in Jena am 25.+26.09.2024)

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SIOS Experten

Dr.-Ing. Ralf Schüler

Leiter Entwicklung

Falko Seyfferth

Anwendungsingenieur

Dipl.-Ing. Enrico Langlotz

F & E / Projektleitung

Agenda:

 

Ab 09:00 Uhr Empfang.


09:30 Uhr – 09:40 Uhr
Begrüßung der Teilnehmer durch Dr. Ralf Schüler, Leiter Entwicklung

  • Kurze Vorstellung der SIOS

09:40 Uhr – 10:15 Uhr

  • Einflussgrößen auf interferometrische Messungen
  • Mehrstrahl-Interferometer für die Erfassung geometrischer Fehler
  • Abbe-Fehlerfreie Messung mittels Dreistrahl-Laserinterferometer

Referent: Falko Seyfferth


10:15 Uhr – 10:30 Uhr
Kaffeepause, Erfahrungsaustausch


10:30 Uhr – 11:30 Uhr 

  • Korrektur geometrischer Fehler bei 6 DoF-Messungen
  • Verbesserung der Reproduzierbarkeit von interferometrischen Messungen
  • Zusammenfassung

Referenten: Falko Seyfferth // Dr. Ralf Schüler


11:30 Uhr – 12:00 Uhr
Rundgang durch die verschiedenen Fachbereiche der SIOS mit Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer der SIOS


12:00 Uhr – 12:45 Uhr
Mittagspause, Erfahrungsaustausch


13:45 Uhr – 15:00 Uhr

Experten: Enrico Langlotz // Falko Seyfferth


15:00 Uhr – 16:00 Uhr
Kaffeepause, Zeit für individuelle Gespräche

Das sagt ein Teilnehmer zum Seminar!

"Dieses Seminar hat mir wieder bewiesen wie wichtig der Austausch zwischen Anwendern und Herstellern ist. Nur so profitieren beide Seiten. Bezüglich des Seminars kann ich nur sagen weiter so und es hat Spaß gemacht besonders auch wegen der Gruppengröße. So entstand eine hohe Dynamik und es konnte sehr gut auf einzelne Probleme eingegangen werden ohne groß in Zeitnot zu geraten."

Andreas Fanelsa, Laborleiter, Perschmann Calibration

Informationen zum letzten Praxisseminar finden Sie unter dem Menüpunkt „Aktuelles“.

Häufig gestellte Fragen

Die Teilnehmergebühr beträgt:

249 € zzgl. MwSt. inkl. Seminarunterlagen, Getränke, Pausenversorgung

+ Bonus: freier Eintritt zur W3+ Fair in Jena am 25. und 26.09.2024

Das Seminar richtet sich an Messtechniker, Ingenieure, Konstrukteure, Prozessentwickler, Produktionsplaner und Projektleiter, die ihre Fähigkeiten in der Präzisionsmesstechnik vertiefen möchten.

Die Teilnehmerzahl ist auf eine kleine Gruppe limitiert, da nur so ein reger Austausch mit den Teilnehmern möglich ist und auf die zahlreichen Fragen – insbesondere im Praxisteil – ausführlich eingegangen werden kann.

Nein, das Seminar findet ausschließlich vor Ort statt, um praktische Übungen zu ermöglichen.

Ja, alle Teilnehmer erhalten am Ende der Veranstaltung ein Zertifikat über die erfolgreiche Teilnahme.

Bitte kontaktieren Sie unser Marketing-Team Ilka Oertel und Gaby Rösner unter:

 marketing@sios.de

Anmeldung zum Praxisseminar:

Hochpräzise, simultane Weg- und Winkelmessung

Formular Praxisseminar

Praxisseminar Teilnehmerformular

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