Die Veranstaltung fand im Euskalduna Jauegia Konferenzzentrum statt. Unser Geschäftsführer Dr. Denis Dontsov war mit einem Vortrag beim Workshop „Industrial in-process manufacturing metrology“ unter der Leitung von Prof. Richard Leach, University of Nottingham, vertreten.
Zur gleichzeitig stattfindenden Ausstellung präsentierte die SIOS unsere Kalibriersysteme sowie das Differenz-Interferometer SP 5000 DI mit extrem hoher Langzeitstabilität. Unser Vertriebsleiter Peter Grundschok informierte in der Commercial Session über die neuesten Interferometer-Entwicklungen für die Maschinenkalibrierung.
Die Veranstaltung zeichnet sich durch ein sehr hohes fachliches Niveau bei steigender Teilnehmerzahl aus.