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Längen- und Winkelmesssysteme

Mehrstrahl Laserinterferometer

Dreistrahl-Laserinterferometer

SP 5000 TR

simultane Weg- und zwei Winkelmessung

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Kalibrier-Laserinterferometer

SP 15000 C6 NG

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SIOS Praxisseminar


zur hochpräzisen simultanen Weg- und Winkelmessung


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von Abbe-Fehlern


26. Juni 2024
 

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