Bereits das Networking-Event am Vorabend wurde genutzt, um erste wertvolle Kontakte zu knüpfen und sich in entspannter Atmosphäre über aktuelle Themen der Präzisionsmesstechnik auszutauschen.
Der Experten-Tag begann für einige Teilnehmer bereits um 9:00 Uhr mit einer Early-Bird-Führung durch Produktionsstätten von SIOS, die von Dr. Denis Dontsov persönlich geleitet wurde. Im Laufe des Tages konnten alle Teilnehmerinnen und Teilnehmer an exklusiven Führungen durch die Messlabore und Fertigungsbereich teilnehmen. Weitere Führungen durch die Ausstellungsräume gaben detaillierte Einblicke in die Funktionsweise unserer hochpräzisen SIOS-Messsysteme – vom Einstrahl-Interferometer über die Nanopositionier- und Nanomessmaschine NMM-1 bis hin zu unseren Kernprodukten, den Mehrstrahl-Interferometern. Auch unsere Softwarelösungen und das LSC-Temp-System zur Überwachung von Umwelteinflüssen auf die Messumgebung wurden vorgestellt.
Begleitet von zahlreichen Fragen zeigte sich das große Interesse der Teilnehmenden, die – auch als erfahrene Anwender aus unserem bestehenden Kundenkreis – neue Ideen und Einsatzmöglichkeiten entdeckten.
Vertiefende Expertengespräche und Bedarf an neuen Lösungen
Die Gespräche mit den anwesenden Experten und das gezielte Eingehen auf individuelle Fragestellungen stießen auf großes Interesse. Zusätzlich zu den im Vorfeld geplanten Terminen ergab sich weiterer Bedarf an Expertengesprächen. Einige der Anfragen führten bereits zu neuen Projektideen, die in den kommenden Wochen konkretisiert werden.
Höhepunkt des Events: Fachvorträge und Gastvortrag
Zu den Höhepunkten der Veranstaltung zählten die verschiedenen Fachvorträge der SIOS-Referenten: Dr. Denis Dontsov, Enrico Langlotz und Dr. Michael Kühnel sowie ein Gastvortrag von Lukas Neumeister von der JAT Jenaer Antriebstechnik GmbH. Lukas Neumeister berichtete über den praktischen Einsatz des Dreistrahl-Interferometers SP 5000 TR in der industriellen Praxis, was bei den Teilnehmenden auf großes Interesse stieß.
Abgerundet wurde die Veranstaltung durch ein Quiz, bei dem die Teilnehmer ihr Fachwissen unter Beweis stellen konnten – auch für langjährige Messtechnik-Experten eine anspruchsvolle Herausforderung.
Positive Rückmeldungen und neue Projektideen
In zahlreichen Gesprächen sowie durch das positive Feedback der Teilnehmenden, zeigte sich, dass der Experten-Tag wertvolle Impulse und Inspirationen lieferte.
Ausblick und Dank an die Teilnehmenden
„Der Experten-Tag ist für uns eine wertvolle Gelegenheit, unsere Lösungen praxisnah mit den Teilnehmenden zu beleuchten und die Anwendungsfelder der Interessenten und Kunden besser kennenzulernen, um so noch gezielter auf deren Bedürfnisse eingehen zu können. Mein Dank gilt allen Referenten, Teilnehmenden und unseren Mitarbeitern für ihr Engagement und die vielen anregenden Gespräche, die diesen Tag zu einem besonderen Erfolg gemacht haben.“ so Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer der SIOS Meßtechnik GmbH.
Wir freuen uns schon jetzt auf den nächsten SIOS-Experten-Tag in 2025 und hoffen, auch im nächsten Jahr viele Gäste begrüßen zu dürfen, wenn es wieder heißt „Experten treffen Experten“ – für noch mehr innovative Impulse und einen inspirierenden Erfahrungsaustausch auf höchstem fachlichen Niveau.
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Wir laden Sie ein, einen Blick auf unsere Fotogalerie zu werfen, um die Höhepunkte des SIOS Experten-Tages zu erleben.
