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Nanopositionier-und-Nanomessmaschine

NMM-1

Positionierung, Manipulation, Bearbeitung und Messung von Objekten und Strukturen mit Nanometergenauigkeit

weltweit präziseste Nanopositionier- und Nanomessmaschine

Mess- und Positionierbereich 25 × 25 × 5 mm

Auflösung 0,1 nm

3D-Positionier- und Messsystem höchster Genauigkeit

Antastsysteme, z. B. Laserfokussensoren, Rasterkraftmikroskope, Weißlichtsensoren, 3D-Mikrotaster

Offene Gerätearchitektur ermöglicht eine Anwendung von kundenspezifischen Sensoren

Steuerung der NMM-1 erfolgt über eine PC-Software. Eine Anwender-API ist vorhanden.

Die Nanopositionier- und Nanomessmaschine für die dreidimensionale Koordinatenmessung arbeitet in einem Messbereich von 25 mm x 25 mm x 5 mm mit einer Auflösung von 0,1 nm. Durch eine besondere Sensoranordnung wird eine, in allen drei Koordinatenachsen abbefehlerfreie Messung gewährleistet. Die Messachsen von drei Miniaturinterferometern schneiden sich virtuell in dem Berührungspunkt des Antastsensors mit dem Messobjekt.

Das Messobjekt liegt direkt auf einer beweglichen Spiegelecke. Die Position der Spiegelecke wird durch die drei fest angeordneten Miniaturinterferometer erfasst. Die Positionierung der Spiegelecke erfolgt mit einem dreiachsigen Antriebssystem. Mit zwei Winkelsensoren werden die Winkelabweichungen bei der Positionierung gemessen und ausgeregelt.

Das Licht von einem stabilisierten Laser wird über Lichtwellenleiter aus der Elektronikeinheit in die Interferometerköpfe übertragen. Dadurch entsteht ein kompakter und temperaturstabiler Aufbau der Nanopositionier- und Nanomessmaschine.

Die Nanomessmaschine ist das einzige metrologische System weltweit, das sicher für Messungen von makroskopischen Objekten mit Sub-Nanometergenauigkeit unter normalen Bedingungen geeignet ist und bei mehreren nationalen metrologischen Instituten im Einsatz ist.

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Technische Daten

25 mm x 25 mm x 5 mm

<0,1 nm

Anwendungsgebiete

Positionierung, Manipulation, Bearbeitung und Messung von Objekten der Mikroelektronik, Mikromechanik, Optik, Mikrosystemtechnik mit Nanometergenauigkeit in großen Raumbereichen

stetige AFM Scans über große Bereiche sind möglich

Messung von Präzisionsteilen, z. B. Härteeindringkörper, Membranen und Mikrolinsen

Kalibrierung von Stufenhöhennormalen und Pitch-Standards

Abbefehlerfrei Positionierung

Metrologische Messanordnung, geeignet zur Kalibrierung und Qualifizierung von Sensoren in der Entwicklung

offene Gerätearchitektur, Einsatz von kundenspezifischen Antastsensoren ist möglich

Ideal für

Kalibrierung

Forschung / Entwicklung

Metrologisches Messprinzip der Nanomessmaschine NMM-1

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Die passende Software

NMM Control

Software für die Nanopositionierung

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