Treffen Sie uns gleich zu Beginn des Jahres auf der weltgrößten Fachmesse für Optik und Photonik an der amerikanischen Westküste in San Francisco. Sie finden uns am deutschen Gemeinschaftspavillon.
Dr. Denis Dontsov und Rudyard Urtecho freuen sich darauf, Ihnen unsere laserinterferometrische Messtechnik vorstellen zu dürfen. Direkt am Messestand präsentieren wir das Weg-Winkel-Differenzinzerferometer SP 5000 DI/DS zur hochstabile differenzielle Längen- und Nickwinkelmessung.
Nutzen Sie die Gelegenheit und informieren Sie sich über unser gesamtes Produktportfolio und deren Anwendungsmöglichkeiten zur Messung von Länge, Winkel, Schwingung, Geradheit, Temperatur, Kraft und weitere Messgrößen mit höchster Auflösung und geringer Messunsicherheit.