Im Nanometrologie Webinar erfahren Sie, wie man mit den genauesten Messsystemen der SIOS präzise bis in den Nanometerbereich messen kann.
Unsere Experten Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz geben Informationen zu folgenden Schwerpunkten:
- ultrastabile hochauflösende Differenz-Laserinterferometer
- die Grundlagen der Nanopositionierung
- Anwendung der Nanopositionier- & Nanomessmaschine
Am Ende des Webinars beantworten Enrico Langlotz und Peter Grundschok die zahlreichen Fragen der Teilnehmer.
Referenten: Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer SIOS / Enrico Langlotz, F& E / Projektleitung / Peter Grundschok, Verkaufsleiter
Sprache: Englisch
Mitschnitt vom: 30.09.2021
Dauer: 60 min