Am 24. September 2024 hat die SIOS Meßtechnik GmbH erneut zu einem Praxisseminar zur simultanen Weg- und Winkelmessung eingeladen. Unter der fachkundigen Leitung der Referenten Dr. Denis Dontsov und Falko Seyfferth erhielten die Teilnehmer detaillierte Einblicke in die theoretischen Grundlagen der hochpräzisen Längen- und Winkelmessung mit Interferometern. Im Mittelpunkt des Seminars stand dabei die Abbe-Fehlerkompensation, die zur Steigerung der Messgenauigkeit beiträgt.
Ergänzend zu den Kernthemen wurden diesmal aufgrund von Fragestellungen aus dem Praxisseminar im Juni 2024 auch die Themen Schwingungsmessungen mit Laserinterferometern und Messabweichungen bei der Ausrichtung von Laserinterferometern mittels optischer Positionssensoren intensiv behandelt. Diese speziellen Inhalte boten den Teilnehmern zusätzliche Einblicke in die erweiterte Anwendung der SIOS-Technologien und stießen auf großes Interesse.
Anhand von konkreten Anwendungsbeispielen wurde das Thema Schwingungsmessung mit Laserinterferometern veranschaulicht. Die Teilnehmer erhielten detaillierte Einblicke in die Identifikation von Schwingungsmustern und diskutierten die Anwendung dieser Technik in der Praxis.
Beim Thema zu Ausrichtungen von Laserinterferometern auf den kurzen Messachsen erläuterte Falko Seyfferth den Einsatz von eigebauten optischen Sensoren mit dem Ziel, relative Messabweichungen unter 1e-7 zu erreichen. Es wurde auch Bezug auf Einsatz verschiedener Messreflektoren und die Bedeutung der Strahlaufweitung genommen, die zur Optimierung der Messgenauigkeit beitragen.
Zum Thema Ausrichtungen von Laserinterferometern auf kurzen Messachsen erläuterte Falko Seyfferth den Einsatz von integrierten optischen Sensoren mit dem Ziel, relative Messabweichungen unter 1e-7 zu erreichen. Dabei wurde auf den Einsatz verschiedener Messreflektoren und die Bedeutung der Strahlaufweitung zur Optimierung der Messgenauigkeit eingegangen.
Im praktischen Teil des Seminars, das von Falko Seyfferth und Enrico Langlotz geleitet wurde, konnten die Teilnehmer das Kalibrierinterferometer SP 15000 C6 NG zur Messung von bis zu 6 DoF und das Dreistrahlinterferometer SP 5000 TR hautnah erleben. Letzteres stand besonders im Fokus, da es bereits von zwei anwesenden Kunden erfolgreich eingesetzt wird. Die intensive Auseinandersetzung mit möglichen Fehlerbildern und deren Auswirkungen auf die Messergebnisse sorgte für Diskussionsstoff.
Die Teilnehmer stellten zahlreiche Fragen, die von den Referenten umfassend beantwortet wurden. Am Ende des Seminars konnten alle offenen Punkte geklärt werden.
„Es freut mich zu sehen, wie stark das Interesse an unseren hochpräzisen Messsystemen und deren Anwendung in der Praxis ist“, erklärte Dr.Denis Dontsov, Geschäftsführer der SIOS Meßtechnik GmbH. „Unser Ziel ist es, unseren Kunden durch diese Seminare nicht nur das notwendige Fachwissen zu vermitteln, sondern sie auch dabei zu unterstützen, das volle Potenzial unserer Technologien auszuschöpfen.“
Vielen Dank an alle Teilnehmer und Referenten für den regen Austausch und die spannenden Diskussionen!
Impressionen des Praxisseminars sehen Sie in der Bildergalerie.
